Главная

БЛАГОДАРИМ ЗА УЧАСТИЕ В КОНФЕРЕНЦИИ СЗМ-2017!

Уважаемые коллеги,

От имени локального организационного комитета, я благодарю всех участников международной
конференции «Сканирующая зондовая микроскопия 2017» (СЗМ-2017)!
В СЗМ-2017 приняли участие около 150 ученых из 8 стран и 24 городов России.

Было представлено 14 приглашенных, 44 устных и 104 стендовых доклада, а также 9 докладов участников
выставки оборудования. Труды конференции будут опубликованы в специальных выпусках журналов
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering и FERROELECTRICS.

Организационный комитет благодарит спонсоров и участников выставки: Taylor&Francis, Российский фонд
фундаментальных исследований, NT-MDT Spectrum Instruments, Мелитэк, Промэнерголаб, OSTEC, OPTEC,
INTERTECH Corporation, SITEC, Conetech и IMC.
Отдельная благодарность выражается Александру Луканину – спонсору призов за лучшие устные
и стендовые доклады молодых ученых.

Фотографии с конференции размещены в Google photos, а также можно скачать архив.

Сборник тезисов размещен в разделе «Тезисы».

Надеюсь, что вам понравилось в Екатеринбурге!

Приглашаю вас на следующую конференцию SPM-2018 в Екатеринбурге 26-29 августа 2018 г.!

Председатель SPM-2017 и SPM-2018
Проф. В.Я. Шур

 

 

 

_____________________________________________________________________________________________________________________________________________________

Международная конференция 
Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017 
(Scanning Probe Microscopy – 2017) 
28 – 30 августа 2017

Молодежная конференция 
Применение зондовой микроскопии в научных исследованиях
27 – 30 августа 2017 

Уральский федеральный университет, Екатеринбург

Цель конференции:

Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых.
Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.

Тематики конференции:

1. СЗМ в материаловедении.   2. Новые методы СЗМ.
3. СЗМ в биологии и медицине.   4. Аналитические методы СЗМ.
5. Зондовая литография.   6. In situ возможности СЗМ.
7. Обработка данных СЗМ.
9. Ферроики.
  8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика.
10. Науки о жизни.

 

Программный комитет:

А.А. Бухараев КФТИ КазНЦ РАН, Казань   И.В. Яминский МГУ, Москва
В.А. Быков NT-MDT SI, Зеленоград   А.П. Володин Университет Левен, Бельгия
А.В. Латышев ИФП СО РАН, Новосибирск   А.Л. Груверман Университет Небраски, США
В.Л. Миронов ИФМ РАН, Нижний Новгород   О.В. Колосов Университет Ланкастера, Великобритания
Г.М. Михайлов ИПТМ РАН, Черноголовка   А.Л. Холкин Университет Авейру, Португалия
А.А. Саранин ИАПУ ДВО РАН, Владивосток   С.А. Чижик ИТМО НАНБ, Минск, Беларусь
В.Я. Шур УрФУ, Екатеринбург   В.В. Шварцман Университет Дуйсбург-Эссен, Германия

 

Сопредседатели конференции:    В.Я. Шур и В.Л. Миронов

Официальные языки конференции:     русский и английский

Генеральный спонсор конференции:     холдинг NT-MDT Spectrum Instruments

Труды конференции: планируется публикация статей в международных журналах Ferroelectrics и IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Первое извещение СЗМ-2017 (PDF)

Важные даты:
Начало регистрации на сайте:    01 марта 2017
Окончание принятия тезисов:     15 апреля 2017

Контакты:
тел./факс: (343) 261 74 36
nanocenter.urfu.ru
spm-2017@labfer.ru