Главная
БЛАГОДАРИМ ЗА УЧАСТИЕ В КОНФЕРЕНЦИИ СЗМ-2017!
Уважаемые коллеги,
От имени локального организационного комитета, я благодарю всех участников международной конференции «Сканирующая зондовая микроскопия 2017» (СЗМ-2017)! В СЗМ-2017 приняли участие около 150 ученых из 8 стран и 24 городов России.
Было представлено 14 приглашенных, 44 устных и 104 стендовых доклада, а также 9 докладов участников выставки оборудования. Труды конференции будут опубликованы в специальных выпусках журналов IOP Conference Series: Materials Science and Engineering и FERROELECTRICS.
Организационный комитет благодарит спонсоров и участников выставки: Taylor&Francis, Российский фонд фундаментальных исследований, NT-MDT Spectrum Instruments, Мелитэк, Промэнерголаб, OSTEC, OPTEC, INTERTECH Corporation, SITEC, Conetech и IMC. Отдельная благодарность выражается Александру Луканину – спонсору призов за лучшие устные и стендовые доклады молодых ученых.
Фотографии с конференции размещены в Google photos, а также можно скачать архив.
Сборник тезисов размещен в разделе «Тезисы».
Надеюсь, что вам понравилось в Екатеринбурге!
Приглашаю вас на следующую конференцию SPM-2018 в Екатеринбурге 26-29 августа 2018 г.!
Председатель SPM-2017 и SPM-2018
Проф. В.Я. Шур
Международная конференция
Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017
(Scanning Probe Microscopy – 2017)
28 – 30 августа 2017
Молодежная конференция
Применение зондовой микроскопии в научных исследованиях
27 – 30 августа 2017
Уральский федеральный университет, Екатеринбург
Цель конференции:
Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых. Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.
Тематики конференции:
| 1. СЗМ в материаловедении. | 2. Новые методы СЗМ. |
| 3. СЗМ в биологии и медицине. | 4. Аналитические методы СЗМ. |
| 5. Зондовая литография. | 6. In situ возможности СЗМ. |
| 7. Обработка данных СЗМ. | 8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика. |
| 9. Ферроики. | 10. Науки о жизни. |
Программный комитет:
| А.А. Бухараев | КФТИ КазНЦ РАН, Казань | И.В. Яминский | МГУ, Москва |
| В.А. Быков | NT-MDT SI, Зеленоград | А.П. Володин | Университет Левен, Бельгия |
| А.В. Латышев | ИФП СО РАН, Новосибирск | А.Л. Груверман | Университет Небраски, США |
| В.Л. Миронов | ИФМ РАН, Нижний Новгород | О.В. Колосов | Университет Ланкастера, Великобритания |
| Г.М. Михайлов | ИПТМ РАН, Черноголовка | А.Л. Холкин | Университет Авейру, Португалия |
| А.А. Саранин | ИАПУ ДВО РАН, Владивосток | С.А. Чижик | ИТМО НАНБ, Минск, Беларусь |
| В.Я. Шур | УрФУ, Екатеринбург | В.В. Шварцман | Университет Дуйсбург-Эссен, Германия |
Сопредседатели конференции: В.Я. Шур и В.Л. Миронов
Официальные языки конференции: русский и английский
Генеральный спонсор конференции: холдинг NT-MDT Spectrum Instruments
Труды конференции: планируется публикация статей в международных журналах Ferroelectrics и IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Первое извещение СЗМ-2017 (PDF)
Важные даты:
Начало регистрации на сайте: 01 марта 2017
Окончание принятия тезисов: 15 апреля 2017
Контакты:
тел./факс: (343) 261 74 36
nanocenter.urfu.ru
spm-2017@labfer.ru