Nanoeducator-10

Образовательный процесс с использованием NANOEDUCATOR-10 направлен на освоение основ работы в режимах Сканирующей Зондовой Микроскопии, приобретение навыков исследования нанообъектов и наноструктур, проведение зондовой нанолитографии и наноманипуляций.

Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы.

Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности.
 
Производитель: NT-MDT, Россия
Год выпуска: 2006
Комната: 101
 

Основные методики измерения:
1. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- отображение фазового контраста
- силовая спектроскопия
- динамическая силовая литография
2. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
- туннельная спектроскопия

Цикл лабораторных работ:
1. Определение основных параметров универсального датчика туннельного тока и силового взаимодействия  СЗМ.
2. Визуализация твердотельных микро- и наноструктур с помощью СЗМ.
3. Динамическая силовая литография.
4. Обработка и количественный анализ СЗМ изображений.

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: