В составе Комплекса оборудования конфокальной микроскопии.
Комбинированная система, включающая конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп.
Уникальное совмещение оптических и зондовых методов в одном приборе позволяет ставить комплексные эксперименты, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств.
Возможность исследовать оптические свойства объектов за пределом дифракционных ограничений. Сканиурющая ближнепольная оптическая микроскопия и эффекты локального усиления комбинационного рассеяния (КР) позволяют картировать распределение оптических свойств и осуществлять спектроскопию КР с разрешением до 50 нм в плоскости XY.
Производитель: NT-MDT, Россия
Год выпуска: 2006
Комната: 109
Основные методики измерения
1. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение коэффициента трения
- пространственное распределение микротвердости
2. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в гетерофазных системах, биологических объектах, полимерах и др.
3. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
- туннельная спектроскопия
4. Магнитная силовая микроскопия (MFM)
- пространственное распределение магнитных сил
- визуализация магнитных доменных структур
5. Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
- пространственное распределение электрического поля и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
6. Метод зонда Кельвина (KPFM)
- пространственное распределение электростатического потенциала и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
7. Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
- пространственное распределение диэлектрических свойств поверхности
- определение концентрации и типа носителей заряда
8. Нанолитография
- силовая литография в полимерных материалах
- токовая литография (анодное окисление, локальное переключение поляризации)
- векторный и растровый режимы
9. Сканирующая лазерная конфокальная микроскопия
- 3D визуализация оптической неоднородности материалов
- 3D литография в фотоактивных материалах
10. Конфокальная Рамановская и флуоресцентная микроскопия и спектроскопия
- 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояния
- определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения
11. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в гетерофазных системах, биологических объектах, полимерах и др.
- распределение оптической неоднородности поверхности
- поверхностная литография в фотоактивных материалах
- определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки изображения