Перечень услуг

  1. Оптическая микроскопия
    1. Визуализация кинетики и статики объектов
      1. в проходящем свете
      2. в отраженном свете
      3. в поляризованном свете
      4. в режиме светлого поля
      5. в режиме темного поля
      6. в режиме фазового контраста
    2. Обработка изображений
      1. устранение дефектов
      2. определение геометрических и статистических параметров
    3. Стандартное исследование включает в себя
      1. Визуализация поверхностных и объемных структур исследуемых материалов в различных областях образца
      2. Первичная обработка изображений
    4. Дополнительные возможности
      1. Разработка оригинальной методики анализа изображений
      2. Визуализация микрообъектов в широком температурном диапазоне
      3. Визуализация микрообъектов с контролем влажности
    5. Оборудование
      1. Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61
      2. Программный комплекс для регистрации и обработки изображений SIAMS Photolab
  2. Сканирующая лазерная конфокальная микроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
    1. Трехмерное пространственное распределение оптических, фазовых и структурных неоднородностей 
    2. Аттестация углеродных наноматериалов 
    3. Измерение спектров комбинационного рассеяния с высоким спектральным разрешением 
    4. Совмещение пространственного распределения оптических свойств, фазовой структуры и рельефа поверхности объектов
    5. Проведение измерений в широком температурном диапазоне
    6. Оборудование
      1. Зондовый спектроскопический комплекс Ntegra Spectra
      2. Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния Alpha 300 AR
  3. Механическая и оптическая профилометрия
    1. Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением
    2. Построение трехмерных изображений рельефа поверхности
    3. Измерение шероховатости поверхности
    4. Измерение толщины покрытий 
    5. Оборудование
      1. Оптический профилометр WYKO NT 1100
      2. Стилусный профилометр Dektak 150
  4. Сканирующая зондовая микроскопия
    1. Измерение и построение трехмерных изображений рельефа поверхности 
    2. Измерение шероховатости поверхности
    3. Измерение толщины покрытий
    4. Визуализация и определение линейных размеров наночастиц, нанотрубок, зерен нанокристаллических материалов и других наноматериалов 
    5. Измерение пространственной неоднородности механических, оптических, магнитных, электрических и других свойств 
      1. Дополнительные возможности: измерения во внешнем магнитном поле:
        горизонтальное поле до +/- 0,2Т
        вертикальное поле +/- 0,02Т
    6. Визуализация магнитных и сегнетоэлектрических доменных структур 
    7. Измерение твердости и модуля упругости в режиме наноиндентирования
    8. Исследование морфологии биологических объектов 
    9. Токовая и силовая нанолитография 
    10. Стандартное исследование рельефа поверхности
      1. Измерения в двух различных областях образца
      2. Три скана с различным увеличением в каждой исследуемой области
      3. Первичная обработка изображений
    11. Стандартное исследования твердости и модуля упругости
      1. Измерение твердости материала в двух различных областях образца
      2. Скрабирование поверхности с четырьмя различными нагрузками
      3. Сканирование получившихся царапин
      4. Обработка изображения, извлечение информации о твердости материала
    12. Оборудование
      1. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Prima
      2. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Aura
      3. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Therma
      4. Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D SA
      5. Сканирующий зондовый микроскоп нанотвердометр НаноСкан-4D
  5. Сканирующая электронная микроскопия
    1. Измерение морфологии рельефа поверхности
    2. Определение элементного состава образцов методом рентгеноспектрального микроанализа
    3. Исследование кристаллической структуры/фазового состава поверхности методом дифракции отраженных электронов
    4. Измерение биологических тканей
    5. Измерение размеров микро- и наночастиц
    6. Электронно-лучевая литография
    7. Оборудование
      1. Сканирующий электронный-ионный микроскоп Auriga CrossBeam
      2. Сканирующий электронный микроскоп EVO LS 10
      3. Сканирующий электронный микроскоп Merlin
  6. Анализ дисперсий наночастиц в растворах
    1. Комплексный анализ дисперсии нано- и субмикронных частиц в растворах 
    2. Построение распределений частиц по размерам 
    3. Измерение дзета-потенциала раствора 
    4. Оборудование
      1. Анализатор дисперсии Brookhaven 90BI-Zeta Plus
      2. Анализатор размеров, дзета-потенциала частиц и молекулярной массы Zetasizer Nano ZS
      3. Анализатор гранулометрического состава SALD 7101
  7. Адсорбционная порометрия
    1. Комплексный анализ дисперсности наноматериалов в сухом состоянии 
    2. Измерение суммарного объема и поверхности микро- и мезопор 
    3. Определение удельной поверхности нанопорошков 
    4. Построение распределений пор по размерам 
    5. Оборудование
      1. Анализатор удельной поверхности TriStar 3000
      2. Анализатор удельной поверхности Sorbi N.4.1
  8. Оптическая спектроскопия
    1. Измерение и анализ спектров отражения и пропускания в видимой, ближней и дальней ИК и УФ областях спектра 
    2. Количественный химический анализ по спектрам флюоресценции и поглощения 
    3. Идентификация полос поглощения в ИК спектре, относящихся к определенным функциональным группам анализируемых органических и полимерных материалов 
    4. Регистрация спектров отражения гетерогенных систем, порошков и твердых веществ с неровной поверхностью
    5. Оборудование
      1. Спектрофотометр Cary 5000
      2. ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700
      3. Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама
  9. Атомно-эмиссионная и атомно-абсорбционная спектрометрия
    1. Определение качественного и количественного элементного состава материалов 
    2. Элементный состав проб, включая водные и неводные растворы, с одновременным определением до 40 элементов в широком интервале концентраций 
    3. Оборудование
      1. Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo
      2. Атомно-абсорбционный спетрометр Solaar M6
      3. Лазерно-искровой эмиссионный спектрометр LEA-S500
  10. Газовая и жидкостная хроматография, масс-спектрометрия и термогравиметрия
    1. Анализ сложных смесей газов и жидкостей с идентификацией и количественным определением компонентов
    2. Дифференциальная сканирующая калориметрия
    3. Дифференциальный термический анализ
    4. Термогравиметрия, возможность измерений синхронно с масс-спектрометрическим анализом в широком интервале температур 
    5. Оборудование
      1. Хромато-масс-спектрометр высокого разрешения с двойной фокусировкой DFS
      2. Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный UPLC Waters Xevo
      3. Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C
      4. Термоанализатор STA 409 PC Luxx
      5. Термогравиметрический анализатор PYRIS 1 TGA
      6. Газовый хроматограф/квадрупольный масс-спектрометр GC/MS 600 D
      7. Газовый хроматограф с цифровым контролем носителя газа Thermo Focus GC
      8. Жидкостный хроматограф LC-20
  11. Механические испытания, термомеханический анализ, дилатометрия
    1. Испытания на разрыв и сжатие для определения:
      1. предела прочности
      2. предела текучести
      3. предела пропорциональности
      4. коэффициента упрочнения
    2. Измерения линейного расширения в зависимости от температуры при контролируемом усилии 
    3. Определение температур стеклования, текучести и плавления 
    4. Измерения линейного термического расширения порошков, паст и керамических волокон 
    5. Оборудование
      1. Электромеханическая испытательная машина для исследования свойств материалов AG-50kNXD
      2. Термомеханический анализатор TMA 202/1/G
      3. Высокотемпературный дилатометр DIL 402C
  12. Реологические исследования
    1. Одновременное исследование реологических свойств (вязкости, напряжения и скорости сдвига) и структуры деформируемых систем 
    2. Определение реологических параметров в широком интервале температур 
    3. Оборудование
      1. Вискозиметр ротационный Rheotest RN 4.1
      2. Оптический реометр Haake Mars
  13. Импедансная спектроскопия
    1. Измерение проводимости материалов, электролит-электродных структур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот, величин проводимости, температур и типов атмосфер 
    2. Измерение сегнето-, пиро- и диэлектрических характеристик
    3. Измерение магнитных, электрических и других параметров материалов:
      1. индукция насыщения
      2. коэрцитивная сила
      3. магнитная проницаемость
      4. гистерезисные потери
      5. магнитосопротивление
      6. эффект Холла
      7. температура Кюри
      8. электропроводность
      9. диэлектрические потери
      10. теплоемкость 
    4. Оборудование
      1. Многофункциональная система для измерения свойств сегнетоэлектрических и пьезоэлектрических материалов AixACCT TF Analyser 2000
      2. Магнитометр вибрационный VSM 7407
      3. СКВИД-магнитометр MPMS XL7
      4. Измерительный комплекс для измерения физических свойств материалов DMS-1000
  14. Рентгеновская дифрактометрия
    1. Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ:
      1. Качественное и количественное определение фазового состава
      2. Кристаллическая структура и размеры кристаллитов в широком интервале температур 
    2. Измерение внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки 
    3. Оборудование
      1. Дифрактометр рентгеновский D8 Advance
      2. Рентгеновский дифрактометр EQUINOX 3000
      3. Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD 7000S
  15. Резонансная спектроскопия
    1. Измерение спектров электронного парамагнитного резонанса 
    2. Измерение спектров двойного электронно-ядерного резонанса 
    3. Измерение спектров ферромагнитного резонанса 
    4. Оборудование
      1. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMX Plus
  16. Оптоэлектроника и нанофотоника
    1. Измерение основных характеристик (мощности, энергии и профиля пучка) источников лазерного излучения 
    2. Тестирование элементов оптоэлектроники и нанофотоники с использованием лазерного излучения средней и высокой мощности в видимом, ИК и УФ диапазоне 
    3. Оборудование
      1. Комплекс для измерения параметров лазерного излучения
  17. Механическая обработка
    1. Прецизионная раскройка образцов 
    2. Высококачественная шлифовка и полировка поверхностей различных материалов 
    3. Оборудование
      1. Станок для прецизионной шлифовки и полировки PM5
      2. Автоматическая дисковая пила DAD 3220
  18. Фотолитография
    1. Получение сверхчистой деионизованной воды аналитического качества 
    2. Изготовление поверхностных микроструктур методом контактной литографии 
    3. Формирование рисунка в фоторезисте на поверхности пластин 
    4. Вакуумное нанесение тонких пленок металлов и диэлектриков 
    5. Реактивно-ионное травление 
    6. Разработка и изготовление фотошаблонов
    7. Оборудование
      1. Чистое производственное помещение класса ГОСТ ИСО 5
      2. Комбинированная установка вакуумного напыления Auto 500 Edwards
      3. Установка жидкостной очистки пластин OPTIwet ST30
      4. Установка реактивно-ионного травления Plasmalab 80 plus RIE
      5. Лабораторная центрифуга Sawatec SM180-HP250HDMS
      6. Установка совмещения и экспонирования SUSS MJB4
  19. Обработка материалов
    1. Обработка материалов с использованием лазерного излучения 
    2. Обработка материалов с использованием быстрого термического отжига 
  20. Измерение краевого угла смачивания и угла скатывания

Работы по развитию УЦКП "Современные нанотехнологии" осуществлялись при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации (Проект 075-15-2021-677).

Тел:  +7 343 389 95 68
Email:  nanocenter@urfu.ru

Личный кабинет
＋ Создать заявку на измерения