В составе Комплекса оборудования конфокальной микроскопии.
Неразрушающий химический анализ методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния и получение изображений рельефа поверхности с высоким разрешением
Производитель: WiTec, Германия
Год выпуска: 2011
Комната: 122
| Основные параметры: | |
| Конфокальная микроскопия в отражении | |
| Флуоресценция и КР-спектроскопия | |
| Картографирование большой площади | до 25х25 мм2 |
| Получение 3D-изображений (получение срезов) | |
| Автоматизированное позиционирование образца | по X,Y и Z осям |
| Длина волны возбуждающих лазеров | 488 и 633 нм |
| Оптическое разрешение (при длине волны возбуждения 488 нм) | |
| - продольное | около 500 нм |
| - поперечное | около 400 нм |
| Спектральное разрешение | 0,72 см-1 |
| Детектор | EMCCD камера |