В составе Комплекса оборудования конфокальной микроскопии.
Неразрушающий химический анализ методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния и получение изображений рельефа поверхности с высоким разрешением
Производитель: WiTec, Германия
Год выпуска: 2011
Комната: 122
Основные параметры: | |
Конфокальная микроскопия в отражении | |
Флуоресценция и КР-спектроскопия | |
Картографирование большой площади | до 25х25 мм2 |
Получение 3D-изображений (получение срезов) | |
Автоматизированное позиционирование образца | по X,Y и Z осям |
Длина волны возбуждающих лазеров | 488 и 633 нм |
Оптическое разрешение (при длине волны возбуждения 488 нм) | |
- продольное | около 500 нм |
- поперечное | около 400 нм |
Спектральное разрешение | 0,72 см-1 |
Детектор | EMCCD камера |