В составе Комплекса оборудования сканирующей зондовой микроскопии.
Данный СЗМ обеспечивает высочайшую чувствительность, наиболее точное сканирование и измерения на базе инвертированной оптической платформы
Производитель: Asylum Research, США
Год выпуска: 2013
Комната: 126
| Основные параметры: | |
| Размеры образцов | до 100х100х15 мм3 |
| ХY разрешение | до 0,1 нм |
| Z разрешение | до 0,04 нм |
| Приложение к образцу напряжений до 220 В |
Основные методики измерения:
1. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение коэффициента трения
- пространственное распределение микротвердости
2. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в гетерофазных системах, биологических объектах, полимерах и др.
3. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
- туннельная спектроскопия
4. Магнитная силовая микроскопия (MFM)
- пространственное распределение магнитных сил
- визуализация магнитных доменных структур
5. Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
- пространственное распределение электрического поля и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
6. Метод зонда Кельвина (KPFM)
- пространственное распределение электростатического потенциала и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
7. Orca
- пространстенное распределение проводимости
- измерение тока в диапазоне от 50 pA до 20 nA
8. Силовая микроскопия пьезоотклика (PFM)
- исследование кинетики локального переключения поляризации в сегнетоэлектриках
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
9. Векторная силовая микроскопия пьезоотклика (VectorPFM)
- одновременная визуализация доменной структуры In-Plane и out-of-Plane
10. DARTSSPFM
- визуализация доменной структуры на двух частотах около резонанса
11. Нанолитография
- силовая литография в полимерных материалах
- токовая литография (анодное окисление, локальное переключение поляризации)
- векторный и растровый режимы
12. Спектроскопия
- измерение локальных перель гистерезиса
- картирование образца