NTEGRA Prima

В составе Комплекса оборудования сканирующей зондовой микроскопии. 

Базовая модель - многофункциональный прибор для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии

Производитель:  NT-MDT, Россия
Год выпуска:  2007
Комната:  109  

  Основные методики измерения:

Контактная атомно-силовая микроскопия;
полуконтактная атомно-силовая микроскопия;
магнитная силовая микроскопия;
электростатическая силовая микроскопия;
метод зонда Кельвина;
сканирующая емкостная микроскопия;
наноиндентация;
нанолитография;

 

Дополнительные возможности:

 
Приложение к образцу напряжений:  до 50 В
Наноиндентация   
Измерения с помощью наносклерометрического модуля:   
модуль Юнга:                            от 1 до 1000 ГПа
твердость:   от 1 до 150 ГПа
Использование в учебном процессе