В составе Комплекса оборудования сканирующей зондовой микроскопии.
Базовая модель - многофункциональный прибор для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии
Производитель: NT-MDT, Россия
Год выпуска: 2007
Комната: 109
Основные методики измерения:
Контактная атомно-силовая микроскопия;
полуконтактная атомно-силовая микроскопия;
магнитная силовая микроскопия;
электростатическая силовая микроскопия;
метод зонда Кельвина;
сканирующая емкостная микроскопия;
наноиндентация;
нанолитография;
|
Дополнительные возможности: |
|
| Приложение к образцу напряжений: | до 50 В |
| Наноиндентация | |
| Измерения с помощью наносклерометрического модуля: | |
| модуль Юнга: | от 1 до 1000 ГПа |
| твердость: | от 1 до 150 ГПа |
| Использование в учебном процессе |