Carl Zeiss Workstation AURIGA CrossBeam

Samples: 
Кристаллографический анализ структуры стали
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Частица серебра, разрезанная ионным пучком
Частицы серебра
Частицы олова
Частицы олова
Частицы олова

Study of morphology, chemical and structural material properties with nanoscale resolution.

Scanning electron microscope with focused ion beam, electron backscatter diffraction (EBSD), energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), local charge compensation, and E-beam lithography.

Manufacturer:  Carl Zeiss NTS, Germany
Year: 2009
Location: 124
 
Main features:  
Scanning Electron Microscopy:  
    Electron gun: Schottky field emitter
    Resolution: 1.0nm @ 15kV, 1.9nm @ 1kV
    Magnification: 12x—1000000x
    Acceleration voltage: 0.1—30kV
   
Focused Ion Beam:  
    Ion gun: Ga liquid metal ion source
    Resolution: <2.5nm @ 30kV
    Magnification: 300x—500000x
    Acceleration voltage: 1.0—30kV 

 

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: