AURIGA CrossBeam

Примеры: 
Кристаллографический анализ структуры стали
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Частица серебра, разрезанная ионным пучком
Частицы серебра
Частицы олова
Частицы олова
Частицы олова

В составе Комплекса оборудования электронной микроскопии.

Сканирующий электронный микроскоп для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением.

Сфокусированный ионный пучок, рентгеновский микроанализ (EDS), дифракция обратно рассеянных электронов (EBSD), компенсация заряда, электронно-лучевая литография.

Производитель:  Carl Zeiss NTS, Германия
Год выпуска: 2009
Комната: 124
 
Основные параметры:  
Сканирующий электронный микроскоп:  
    электронная пушка автоэмиссионный катод Шоттки
    разрешение  1.0нм @ 15кВ, 1.9нм @ 1кВ
    увеличение 12x – 1 000 000x
    ускоряющее напряжение 0.1 – 30кВ
   
Сфокусированный ионный пучок  
    ионная пушка автоэмиссионный Ga
    разрешение < 2.5нм @ 30 кВ
    увеличение 300x – 500 000x
    ускоряющее напряжение 1.0 – 30кВ 

 

Личный кабинет
+ Создать заявку на измерения