NTEGRA Therma

В составе Комплекса оборудования сканирующей зондовой микроскопии. 

Измерения в широком температурном диапазоне.

Производитель:  NT-MDT, Россия
Год выпуска:  2007
Комната:  109  

 

Дополнительные возможности:

 
Высокостабильные измерения с атомарным разрешением в режиме атомно-силовой микроскопии  
Широкодиапазонные термоизмерения с компенсацией дрейфов    от -30 оС до 200 оС;
Измерения в жидкости    
Нагрев образцов                              до 300оС
Измерения в поперечном и продольном магнитном поле;  
Приложение к образцу напряжений до 300 В

 

Основные методики измерения

 Контактная атомно-силовая микроскопия;
 полуконтактная атомно-силовая микроскопия;
 сканирующая туннельная микроскопия;
 магнитная силовая микроскопия;
 электростатическая силовая микроскопия;
 метод зонда Кельвина;
сканирующая емкостная микроскопия;
силовая микроскопия пьезоотклика;
нанолитография;