В составе Комплекса оборудования сканирующей зондовой микроскопии.
Измерения в широком температурном диапазоне.
Производитель: NT-MDT, Россия
Год выпуска: 2007
Комната: 109
|
Дополнительные возможности: |
|
| Высокостабильные измерения с атомарным разрешением в режиме атомно-силовой микроскопии | |
| Широкодиапазонные термоизмерения с компенсацией дрейфов | от -30 оС до 200 оС; |
| Измерения в жидкости | |
| Нагрев образцов | до 300оС |
| Измерения в поперечном и продольном магнитном поле; | |
| Приложение к образцу напряжений | до 300 В |
Основные методики измерения
Контактная атомно-силовая микроскопия;
полуконтактная атомно-силовая микроскопия;
сканирующая туннельная микроскопия;
магнитная силовая микроскопия;
электростатическая силовая микроскопия;
метод зонда Кельвина;
сканирующая емкостная микроскопия;
силовая микроскопия пьезоотклика;
нанолитография;