Перечень методик выполнения измерений

1. Методика измерений усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов и изделий на их основе методом дилатометрии

2. Методика выполнения измерений массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом

3. Методика выполнения измерений параметров функции распределения по размерам частиц в суспензиях методом динамического рассеяния света

4. Методика выполнения измерений удельной площади поверхности, удельного объема и среднего размера нанопор пористых материалов методом газовой адсорбции

5. Методика выполнения измерений термодинамических параметров взаимодействия в полимерсодержащих системах методом статической сорбции

6. Методика выполнения измерений массовых долей примесей железа и меди в наноматериалах атомно-эмиссионным анализом с индуктивно-связанной плазмой

7. Методика выполнения измерений массовых долей примесей свинца, сурьмы в медьсодержащих наноматериалах атомно-абсорбционным анализом с электротермической атомизацией

8. Изучение закономерностей модифицирования оксидных поверхностей методом ИК - Фурье спектроскопии

9. Методика выполнения измерений состава адсорбатов (H2O, CO, CO2, O2) в керамических наноструктурных материалах и оксидных нанопорошках методом газовой масс-спектрометрии

10. Методика выполнения измерений фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов методами рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа

11. Методика выполнения измерений магнитной восприимчивости наноматериалов в переменных магнитных полях различной частоты в широком диапазоне температур и постоянных магнитных полей

12. Методика выполнения измерений электропроводности и постоянной Холла в широких диапазонах частот, температур и постоянных магнитных полей четырех-контактным методом

13. Методика измерений магнитного момента наноструктурных материалов на установке магнитоизмеительной MPMS-XL-7 EC магнитометрическим методом

14. Методика измерений магнитных характеристик магнитотвердых материалов в замкнутой магнитной цепи индукционно-непрерывным методом

15. Методика измерений величины шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии

16. Методика измерений величины шероховатости поверхности методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)

17. «Методика измерений толщины нанопокрытий методом атомно-силовой микроскопии».

18. Методика измерений толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)

19. Методика выполнения измерений размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии

20. Методика измерений геометрических параметров периодических структур сегнетоэлектрических доменов методами сканирующей зондовой микроскопии

21. Методика измерений g-фактора парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus

22. Методика измерений количества парамагнитных центров с применением спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) EMX Plus

23. Определение содержания меди, железа, висмута, цинка методом атомной спектроскопии с индуктивносвязанной плазмой в наноматериалах на основе цветных металлов с помощью спектрометра iCAP 6500

24. Атомно-абсорбционное определение меди в электролитах с помощью спектрометра SOLAAR M6 фирмы Thermo Fisher Electron».

25. Методика идентификации неорганических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии

26. Методика идентификации органических соединений методом ИК-Фурье спектроскопии

27. Методика получения пленок методом ионно-плазменного напыления

28. Методика измерения параметров лазерных пучков

29. Методика получения тонких пленок металлов магнетронным распылением

30. Методика получения тонких пленок диэлектриков методом электронно-лучевого испарения

31. Методика получения тонких пленок металлов методом электронно-лучевого испарения

32. Методика формирования прецизионного рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллической пластины

33. Методика измерения геометрических параметров рисунка фоторезиста на поверхности монокристаллических пластин

34. Методика формирования прецизионного рисунка металлических электродов на поверхности монокристаллических пластин

35. Методика формирования прецизионного рисунка в диэлектрическом покрытии на поверхности монокристаллических пластин

36. Методика измерения параметров преобразователей длины волны лазерного излучения

37. Методика механо-химической полировки поверхности монокристаллических материалов с шероховатостью в субнанометровом диапазоне

38. Методика прецизионной очистки монокристаллических пластин для нанесения слоя фоторезиста, металлических или диэлектрических тонких пленок

39. Методика получения изображений рельефа поверхности материалов методом интерференционной оптической микроскопии (оптической профилометрии)

40. Методика получения изображений рельефа поверхности проводящих материалов с нанометровым пространственным разрешением методом сканирующей туннельной микроскопии

41. Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в контактном режиме атомно-силовой микроскопии

42. Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии

43. Методика получения изображений рельефа поверхности материалов с нанометровым пространственным разрешением в бесконтактном режиме атомно-силовой микроскопии

44. Методики получения изображений поверхности гетерофазных систем в режиме фазового контраста атомно-силовой микроскопии

45. Методики получения изображений пространственного распределения электрического поля, электростатического потенциала концентрации и типа носителей заряда с нано-метровым разрешением с помощью сканирующей зондовой микроскопии

46. Методика измерения спектров комбинационного рассеяния наноматериалов в режиме сканирующей лазерной конфокальной микроскопии

47. Методика получения изображений пространственного распределения намагниченности материалов с помощью магнито-силовой микроскопии

48. Методика измерения спектрального состава излучения материалов методом спектрофотометрии

49. Методика измерения внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки в наноразмерных объектах и наноматериалах методом рентгеновской дифракции

50. Методики Фурье УФ-ИК спектроскопии для определения типов связей и типов структур на поверхности наноразмерных объектов, в частности, углеродных наноматериалов

51. Методика определения прочности на разрыв и пластичности наноматериалов при испытании на разрыв стандартного образца

52. Методика определения прочности на изгиб стандартного образца при испытании на изгиб 3-х и 4-х точечным методом

53. Методика выполнения измерений размеров частиц порошкообразных веществ методом оптической микроскопии

54. Методика получения изображений методом оптической микроскопии

55. Методика формирования металлических масок для фотолитографии с помощью лазерного излучения

56. Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой

57. Методика определения качественного и количественного состава материалов методом атомно-абсорбционной спектроскопии

58. Методика определения удельной поверхности и пористости сложнооксидных материалов с помощью анализатора поверхности

59. Методика определения фазового состава материалов методом растровой электронной микроскопии

60. Методика определения элементного состава материалов методом энергодисперсионного электронного микроанализа

61. Методика определения состава газовых смесей методом масс-спектрометрии

62. Методика определения величины гигантского магнитосопротивления с использованием СКВИД-магнетометра

63. Методика определения валентных состояний примесей металлов с использованием СКВИД-магнетометра

64. Методика проведения элементного анализа методом рентгеновской флуоресценции на полном отражении

65. Методика измерений линейных размеров и массовой доли элементов методом растровой электронной микроскопии

66. Методика измерений дзета-потенциала коллоидных растворов анализатором частиц Zetasizer Nano ZS

67. Методика измерений линейных размеров трехмерных объектов на плоскости XY системой бесконтактных измерений Kestrel

68. Методика измерений температуры стеклования, плавления, коэффициента термического расширения полимерных материалов методом термомеханического анализа

69. Методика выполнения измерений пьезоэлектрических, пироэлектрических и сегнетоэлектрических свойств системой Aixacct TF Anyaliser 2000

70. Методика измерений массовой доли серебра в припоях оловянных и оловянно-свинцовых

71. Методика измерений размеров наночастиц с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D

72. Методика измерений величины шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D

73. Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D

74. Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью сканирующего зондового микроскопа Asylum MFP-3D

75. Методика измерений геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra SPECTRA

76. Методика измерений линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10

77. Методика измерений массовой доли элементов с помощью сканирующего электронного микроскопа EVO LS10

78. Методика измерений геометрических параметров периодических структур с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д

79. Методика измерений твердости и модуля упругости с помощью нанотвердомера НаноСкан-4Д

80. Методика измерений массовой концентрации палладия в водных растворах сорбционно-атомно-абсорбционным методом

81. Методика измерения морфологии методом сканирующей электронной микроскопии

82. Методика определения химического состава методом рентгеновской фотоэлектронной спектрометрии

83. Методика измерения морфологии методом просвечивающей электронной микроскопии

84. Методика исследование кристаллической структуры поверхности методом дифракции отраженных электронов

85. Методика исследования поверхности методом микроскопии модуляции силы

86. Методика травления поверхности сфокусированным ионным пучком

87. Методика измерения пьезоэлектрических свойств методами сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика

88. Методика масс-спектрометрического определения молекулярной массы соединений с помощью гибридного квадрупольного хромато-масс-спектрометра Xevo QTof UPLC

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: