Метрологическое обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты:

1. МВИ шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
2. МВИ шероховатости поверхности с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
3. МВИ шероховатости поверхности методом оптической профилометрии
4. МВИ размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии
5. МВИ размеров наночастиц с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
6. МВИ линейных размеров методом растровой ЭМ
7. МВИ линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью ЭМ EVO LS10
8. МВИ линейных размеров системой Kestrel
9. МВИ толщины методом атомно-силовой микроскопии
10. МВИ  толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии
11. МВИ геометрических параметров периодических структур
12. МВИ геометрических параметров периодических структур с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
13. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
14. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в ниобате лития методом КМКР с помощью микроскопа Ntegra SPECTRA
15. МВИ дзета-потенциала анализатором Zetasizer Nano ZS
16. МВИ параметров функции распределения  методом динамического рассеяния света
17. МВИ усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов методом дилатометрии
18. МВИ массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом
19. МВИ температуры стеклования, плавления методом термомеханического анализа
20. МВИ удельной площади поверхности методом газовой адсорбции
21. МВИ атомно-абсорбционное определение меди в электролитах
22. МВИ массовой доли примесей железа и меди атомно-эмиссионным методом
23. МВИ массовых долей примесей свинца, сурьмы методом спектрометрии
24. МВИ степени модифицирования оксидных поверхностей
25. МВИ массовой доли состава адсорбатов
26. МВИ определение содержания меди, железа и висмута
27. МВИ массовой доли серебра
28. МВИ массовой концентрации палладия сорбционно-атомно-абсорбционным методом
29. МВИ магнитного момента наноструктурных материалов
30. МВИ магнитных характеристик магнитотвердых материалов
31. МВИ g -фактора парамагнитных центров
32. МВИ количества парамагнитных центров

Свидетельства о поверке/сертификатов калибровки средств измерений, а также копии свидетельств об утверждении типа средств измерений

В настоящее время проходит оформление новых сертификатов калибровки и свидетельств о поверке

1. Свидетельство о поверке № 018573-0828-261
   Средство измерений: Установка магнитоизмерительная MPMS-XL EC
2. Свидетельство о поверке № 012734-0614-261
   Средство измерений: Магнитометр вибрационный 7407 VSM
3. Свидетельство о поверке № 023790-1239-251
   Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700
4. Свидетельство о поверке № 023791-1240-251
   Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700
5. Свидетельство о поверке № 0237-1242-251
   Средство измерений: Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo
6. Свидетельство о поверке № 023828-1277-251
   Средство измерений: Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3020
7. Свидетельство о поверке № 023797-1246-251
   Средство измерений: Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама
8. Свидетельство о поверке № 173011-2155-251
   Средство измерений ЭПР-спектрометр EMX (модификация EMX Plus)
9. Свидетельство о поверке № 023794-1243-251
   Средство измерений: Спектрофотометр атомно-абсорбционный Solaar M6
10. Свидетельство о поверке № 023839-1288-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий электронный EVO LS10
11. Свидетельство о поверке № 023838-1287-251
    Средство измерений: Микроскоп автоэмиссионный сканирующий электронный MERLIN
12. Сертификат калибровки № 00179-0298-251
    Средство измерений: Система бесконтактных измерений Kestrel
13. Сертификат калибровки № 95-214-251
    Средство измерений: Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano
14. Сертификат калибровки № 96-215-251
    Средство измерений: Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C Aeolos
15. Сертификат калибровки № 37-251
    Средство измерений: Измерительная система DMS-1000
16. Сертификат калибровки № 000090-0457-251
    Средство измерений: Сканирующий электронный микроскоп AURIGA
17. Сертификат калибровки № 98-217-251
    Средство измерений: Термоанализатор STA 409 PC
18. Сертификат калибровки № 99-218-251
    Средство измерений: Термоанализатор STA 409 PC
19. Сертификат калибровки № 001-001-221
    Средство измерений: Оптический профилометр Wyko NT 1100
20. Сертификат калибровки № 00177-0296-251
    Средство измерений: Высокотемпературный дилатометр DIL 402 C
21. Сертификат калибровки № 000083-0445-251
    Средство измерений: Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61
22. Сертификат калибровки № 002012-0474-251
    Средство измерений: Термографический анализатор Pyris 1 TGA
23. Сертификат калибровки № 951-271-261
    Средство измерений: Машина испытательная AG-50-0.5
24. Сертификат калибровки № 000088-0455-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Aura
25. Сертификат калибровки № 000087-0454-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Spectra
26. Сертификат калибровки № 002011-0447-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый MFP 3D SA