Метрологическое обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты:

  1. МВИ шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
  2. МВИ шероховатости поверхности с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
  3. МВИ шероховатости поверхности методом оптической профилометрии
  4. МВИ размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии
  5. МВИ размеров наночастиц с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
  6. МВИ линейных размеров методом растровой ЭМ
  7. МВИ линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью ЭМ EVO LS10
  8. МВИ линейных размеров системой Kestrel
  9. МВИ толщины методом атомно-силовой микроскопии
  10. МВИ  толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии
  11. МВИ геометрических параметров периодических структур
  12. МВИ геометрических параметров периодических структур с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
  13. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
  14. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в ниобате лития методом КМКР с помощью микроскопа Ntegra SPECTRA
  15. МВИ дзета-потенциала анализатором Zetasizer Nano ZS
  16. МВИ параметров функции распределения  методом динамического рассеяния света
  17. МВИ усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов методом дилатометрии
  18. МВИ массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом
  19. МВИ температуры стеклования, плавления методом термомеханического анализа
  20. МВИ удельной площади поверхности методом газовой адсорбции
  21. МВИ атомно-абсорбционное определение меди в электролитах
  22. МВИ массовой доли примесей железа и меди атомно-эмиссионным методом
  23. МВИ массовых долей примесей свинца, сурьмы методом спектрометрии
  24. МВИ степени модифицирования оксидных поверхностей
  25. МВИ массовой доли состава адсорбатов
  26. МВИ определение содержания меди, железа и висмута
  27. МВИ массовой доли серебра
  28. МВИ массовой концентрации палладия сорбционно-атомно-абсорбционным методом
  29. МВИ магнитного момента наноструктурных материалов
  30. МВИ магнитных характеристик магнитотвердых материалов
  31. МВИ g -фактора парамагнитных центров
  32. МВИ количества парамагнитных центров
  33. МВИ массовой доли меди в сталях с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  34. МВИ массовой доли железа в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  35. МВИ массовой доли золота в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  36. МВИ массовой доли серебра в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  37. МВИ массовой доли никеля в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  38. МВИ массовой доли свинца в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  39. МВИ массовой доли цинка в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
  40. МВИ краевого угла смачивания с помощью тензиометра К100
  41. МВИ угла скатывания с помощью прибора для измерения краевого угла DSA25S

Свидетельства о поверке/сертификатов калибровки средств измерений

В настоящее время проходит оформление новых сертификатов калибровки и свидетельств о поверке

  1. Свидетельство о поверке № С-С/11-10-2022/196466555
    Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский D8 ADVANCE

  2. Свидетельство о поверке № С-С/12-01-2023/218122376
    Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский XRD-7000

  3. Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2024/314205394
    Средство измерений: Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo

  4. Свидетельство о поверке № C-C/13-11-2023/294036779
    Средство измерений: Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3020

  5. Свидетельство о поверке № С-С/26-09-2023/285087205
    Средство измерений: Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама

  6. Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2024/314244897
    Средство измерений: Спектрофотометр атомно-абсорбционный Solaar M6

  7. Свидетельство о поверке № C-C/10-10-2023/285353414
    Средство измерений: Спектрофотометр Cary 5000

  8. Свидетельство о поверке № С-С/14-02-2024/317240076
    Средство измерений: Термографический анализатор Pyris 1 TGA

  9. Свидетельство о поверке № C-C/05-12-2022/206369017
    Средство измерений: Анализатор лазерный элементного состава LEA-S500

  10. Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303310011
    Средство измерений: Тензиометр К100С

  11. Свидетельство о поверке № 007712-0292-221
    Средство измерений: Термоанализатор синхронный модификации STA 409PC

  12. Свидетельство о поверке № 00713-0293-221
    Средство измерений: Термоанализатор динамическо-механический модификации TMA 202

  13. Свидетельство о поверке № 005403-0303-221
    Средство измерений: Система капиллярного электрофореза “Капель-105M”

  14. Свидетельство о поверке № 002708-1828-251
    Средство измерений: Микроскоп автоэмиссионный сканирующий электронный MERLIN

  15. Свидетельство о поверке № 001770-1316-261
    Средство измерений: Магнитометр вибрационный 7407 VSM

  16. Свидетельство о поверке № 006475-1464-261
    Средство измерений: Гистерезисграф Permagraph L

  17. Свидетельство о поверке № С-С/09-10-2023/285585653
    Средство измерений: Установка магнитоизмерительная MPMS-XL EC

  18. Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303169723
    Средство измерений: Прибор для измерения краевого угла DSA23S

  19. Сертификат калибровки № 003403-0623-251
    Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700

  20. Сертификат калибровки № 003405-0642-251
    Средство измерений: Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов «СОРБИ N.4.1»

  21. Сертификат калибровки № 002120-3413-251
    Средство измерений: Система бесконтактных измерений Kestrel

  22. Сертификат калибровки № 002071-3486-26
    Средство измерений: Измерительная система DMS-1000

  23. Сертификат калибровки № 005694-3416-251
    Средство измерений: Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61

  24. Сертификат калибровки № 005695-3446-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Aura

  25. Сертификат калибровки № 005696-3448-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Spectra

  26. Сертификат калибровки № 005697-3452-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Therma

  27. Сертификат калибровки № 002121-3481-251
    Средство измерений: Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света Alpha 300 AR

  28. Сертификат калибровки № 003406-0643-251
    Средство измерений: Анализатор размеров частиц лазерный дифракционный SALD-7101

  29. Сертификат калибровки № 005698-3453-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый MFP 3D SA

  30. Сертификат калибровки № 002007-3340-251
    Средство измерений: Сканирующий электронный микроскоп AURIGA

  31. Сертификат калибровки № 000403-0161-251
    Средство измерений: Спектрометр автоматизированный рентгеновский фотоэлектронный K-Alpha+

  32. Сертификат калибровки № 004377-2273-261
    Средство измерений: Машина испытательная AG-50-0.5

  33. Сертификат калибровки № 001-001-221
    Средство измерений: Оптический профилометр Wyko NT 1100

  34. Сертификат калибровки № 00177-0296-251
    Средство измерений: Высокотемпературный дилатометр DIL 402 C

  35. Сертификат калибровки № 005703-3649-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий электронный EVO LS10

  36. Сертификат калибровки № 003404-0641-251
    Средство измерений: Реометр ротационный Haake MARS

Личный кабинет
+ Создать заявку на измерения