Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты:
- МВИ шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ шероховатости поверхности с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ шероховатости поверхности методом оптической профилометрии
- МВИ размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ размеров наночастиц с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ линейных размеров методом растровой ЭМ
- МВИ линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью ЭМ EVO LS10
- МВИ линейных размеров системой Kestrel
- МВИ толщины методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии
- МВИ геометрических параметров периодических структур
- МВИ геометрических параметров периодических структур с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в ниобате лития методом КМКР с помощью микроскопа Ntegra SPECTRA
- МВИ дзета-потенциала анализатором Zetasizer Nano ZS
- МВИ параметров функции распределения методом динамического рассеяния света
- МВИ усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов методом дилатометрии
- МВИ массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом
- МВИ температуры стеклования, плавления методом термомеханического анализа
- МВИ удельной площади поверхности методом газовой адсорбции
- МВИ атомно-абсорбционное определение меди в электролитах
- МВИ массовой доли примесей железа и меди атомно-эмиссионным методом
- МВИ массовых долей примесей свинца, сурьмы методом спектрометрии
- МВИ степени модифицирования оксидных поверхностей
- МВИ массовой доли состава адсорбатов
- МВИ определение содержания меди, железа и висмута
- МВИ массовой доли серебра
- МВИ массовой концентрации палладия сорбционно-атомно-абсорбционным методом
- МВИ магнитного момента наноструктурных материалов
- МВИ магнитных характеристик магнитотвердых материалов
- МВИ g -фактора парамагнитных центров
- МВИ количества парамагнитных центров
Свидетельства о поверке/сертификатов калибровки средств измерений, а также копии свидетельств об утверждении типа средств измерений
В настоящее время проходит оформление новых сертификатов калибровки и свидетельств о поверке
- Свидетельство о поверке № 018573-0828-261
Средство измерений: Установка магнитоизмерительная MPMS-XL EC - Свидетельство о поверке № 012734-0614-261
Средство измерений: Магнитометр вибрационный 7407 VSM - Свидетельство о поверке № 023790-1239-251
Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700 - Свидетельство о поверке № 023791-1240-251
Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700 - Свидетельство о поверке № 0237-1242-251
Средство измерений: Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo - Свидетельство о поверке № 023828-1277-251
Средство измерений: Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3020 - Свидетельство о поверке № 023797-1246-251
Средство измерений: Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама - Свидетельство о поверке № 173011-2155-251
Средство измерений ЭПР-спектрометр EMX (модификация EMX Plus) - Свидетельство о поверке № 023794-1243-251
Средство измерений: Спектрофотометр атомно-абсорбционный Solaar M6 - Свидетельство о поверке № 023839-1288-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий электронный EVO LS10 - Свидетельство о поверке № 023838-1287-251
Средство измерений: Микроскоп автоэмиссионный сканирующий электронный MERLIN - Сертификат калибровки № 00179-0298-251
Средство измерений: Система бесконтактных измерений Kestrel - Сертификат калибровки № 95-214-251
Средство измерений: Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano - Сертификат калибровки № 96-215-251
Средство измерений: Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/QMS 403 C Aeolos - Сертификат калибровки № 37-251
Средство измерений: Измерительная система DMS-1000 - Сертификат калибровки № 000090-0457-251
Средство измерений: Сканирующий электронный микроскоп AURIGA - Сертификат калибровки № 98-217-251
Средство измерений: Термоанализатор STA 409 PC - Сертификат калибровки № 99-218-251
Средство измерений: Термоанализатор STA 409 PC - Сертификат калибровки № 001-001-221
Средство измерений: Оптический профилометр Wyko NT 1100 - Сертификат калибровки № 00177-0296-251
Средство измерений: Высокотемпературный дилатометр DIL 402 C - Сертификат калибровки № 000083-0445-251
Средство измерений: Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61 - Сертификат калибровки № 002012-0474-251
Средство измерений: Термографический анализатор Pyris 1 TGA - Сертификат калибровки № 951-271-261
Средство измерений: Машина испытательная AG-50-0.5 - Сертификат калибровки № 000088-0455-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Aura - Сертификат калибровки № 000087-0454-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Spectra - Сертификат калибровки № 002011-0447-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый MFP 3D SA