Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты:
- МВИ шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ шероховатости поверхности с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ шероховатости поверхности методом оптической профилометрии
- МВИ размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ размеров наночастиц с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ линейных размеров методом растровой ЭМ
- МВИ линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью ЭМ EVO LS10
- МВИ линейных размеров системой Kestrel
- МВИ толщины методом атомно-силовой микроскопии
- МВИ толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии
- МВИ геометрических параметров периодических структур
- МВИ геометрических параметров периодических структур с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
- МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в ниобате лития методом КМКР с помощью микроскопа Ntegra SPECTRA
- МВИ дзета-потенциала анализатором Zetasizer Nano ZS
- МВИ параметров функции распределения методом динамического рассеяния света
- МВИ усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов методом дилатометрии
- МВИ массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом
- МВИ температуры стеклования, плавления методом термомеханического анализа
- МВИ удельной площади поверхности методом газовой адсорбции
- МВИ атомно-абсорбционное определение меди в электролитах
- МВИ массовой доли примесей железа и меди атомно-эмиссионным методом
- МВИ массовых долей примесей свинца, сурьмы методом спектрометрии
- МВИ степени модифицирования оксидных поверхностей
- МВИ массовой доли состава адсорбатов
- МВИ определение содержания меди, железа и висмута
- МВИ массовой доли серебра
- МВИ массовой концентрации палладия сорбционно-атомно-абсорбционным методом
- МВИ магнитного момента наноструктурных материалов
- МВИ магнитных характеристик магнитотвердых материалов
- МВИ g -фактора парамагнитных центров
- МВИ количества парамагнитных центров
- МВИ массовой доли меди в сталях с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли железа в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли золота в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли серебра в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли никеля в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли свинца в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ массовой доли цинка в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
- МВИ краевого угла смачивания с помощью тензиометра К100
- МВИ угла скатывания с помощью прибора для измерения краевого угла DSA25S
Свидетельства о поверке/сертификатов калибровки средств измерений
В настоящее время проходит оформление новых сертификатов калибровки и свидетельств о поверке
-
Свидетельство о поверке № С-С/11-10-2022/196466555
Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский D8 ADVANCE -
Свидетельство о поверке № С-С/12-01-2023/218122376
Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский XRD-7000 -
Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2024/314205394
Средство измерений: Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo -
Свидетельство о поверке № C-C/13-11-2023/294036779
Средство измерений: Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3020 -
Свидетельство о поверке № С-С/26-09-2023/285087205
Средство измерений: Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама -
Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2024/314244897
Средство измерений: Спектрофотометр атомно-абсорбционный Solaar M6 -
Свидетельство о поверке № C-C/10-10-2023/285353414
Средство измерений: Спектрофотометр Cary 5000 -
Свидетельство о поверке № С-С/14-02-2024/317240076
Средство измерений: Термографический анализатор Pyris 1 TGA -
Свидетельство о поверке № C-C/01-03-2024/321651020
Средство измерений: Анализатор лазерный элементного состава LEA-S500 -
Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303310011
Средство измерений: Тензиометр К100С -
Свидетельство о поверке № 007712-0292-221
Средство измерений: Термоанализатор синхронный модификации STA 409PC -
Свидетельство о поверке № 00713-0293-221
Средство измерений: Термоанализатор динамическо-механический модификации TMA 202 -
Свидетельство о поверке № 005403-0303-221
Средство измерений: Система капиллярного электрофореза “Капель-105M” -
Свидетельство о поверке № 002708-1828-251
Средство измерений: Микроскоп автоэмиссионный сканирующий электронный MERLIN -
Свидетельство о поверке № 001770-1316-261
Средство измерений: Магнитометр вибрационный 7407 VSM -
Свидетельство о поверке № 006475-1464-261
Средство измерений: Гистерезисграф Permagraph L -
Свидетельство о поверке № С-С/09-10-2023/285585653
Средство измерений: Установка магнитоизмерительная MPMS-XL EC -
Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303169723
Средство измерений: Прибор для измерения краевого угла DSA23S -
Сертификат калибровки № 003403-0623-251
Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700 -
Сертификат калибровки № 003405-0642-251
Средство измерений: Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов «СОРБИ N.4.1» -
Сертификат калибровки № 002120-3413-251
Средство измерений: Система бесконтактных измерений Kestrel -
Сертификат калибровки № 002071-3486-26
Средство измерений: Измерительная система DMS-1000 -
Сертификат калибровки № 005694-3416-251
Средство измерений: Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61 -
Сертификат калибровки № 005695-3446-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Aura -
Сертификат калибровки № 005696-3448-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Spectra -
Сертификат калибровки № 005697-3452-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Therma -
Сертификат калибровки № 002121-3481-251
Средство измерений: Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света Alpha 300 AR -
Сертификат калибровки № 003406-0643-251
Средство измерений: Анализатор размеров частиц лазерный дифракционный SALD-7101 -
Сертификат калибровки № 005698-3453-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый MFP 3D SA -
Сертификат калибровки № 002007-3340-251
Средство измерений: Сканирующий электронный микроскоп AURIGA -
Сертификат калибровки № 000403-0161-251
Средство измерений: Спектрометр автоматизированный рентгеновский фотоэлектронный K-Alpha+ -
Сертификат калибровки № 004377-2273-261
Средство измерений: Машина испытательная AG-50-0.5 -
Сертификат калибровки № 001-001-221
Средство измерений: Оптический профилометр Wyko NT 1100 -
Сертификат калибровки № 00177-0296-251
Средство измерений: Высокотемпературный дилатометр DIL 402 C -
Сертификат калибровки № 005703-3649-251
Средство измерений: Микроскоп сканирующий электронный EVO LS10 -
Сертификат калибровки № 003404-0641-251
Средство измерений: Реометр ротационный Haake MARS