Международная конференция "Сканирующая зондовая микроскопия – 2018"


  • Визит гостей из Ирландии и Польши
  • С 14.08 по 31.08.2018 УЦКП «Современные нанотехнологии» посетят Джоанна Бауэр, доцент Вроцлавского университета науки и техники (Польша) и Тофаил Сайед, доцент Университета Лимерика (Ирландия). Визитеры прибудут в Екатеринбург для совместных научных исследований и участия в конференции «Сканирующая зондовая микроскопия - 2018».

    13 августа 2018

  • Стажировка гостя из Израиля
  • C 05.08.2018 по 19.08.2018 г. УЦКП «Совеременные нанотехнологии» посетит Любомирский Игорь, заведующий лабораторией «Диэлектриков, электормеханики и ионных проводников», Отдел материалов и интерфейсов, Институт Вейцмана, Реховот, Израиль.

    03 августа 2018

  • Участие в Европейской конференции по применению полярных диэлектриков
  • Делегация из 8 сотрудников УЦКП «Современные нанотехнологии» приняла участие в Европейской конференции по применению полярных диэлектриков (ECAPD-2018) с приглашенными, устными и стендовыми докладами. Конференция проходила с 25 по 28 июня 2018 г. в МИРЭА – Российском технологическом университете (г. Москва).

    Основные цели конференции – постановка новых амбициозных научных задач, установление новых научных контактов и развитие сотрудничества ученых из разных стран. В конференции приняли участие ведущие эксперты из академических кругов, исследовательских институтов и университетов.

    02 июля 2018

  • Семинар гостя из Санкт-Петербурга
  • В среду 23 мая в 15-00 в УЦКП «Современные нанотехнологии» (к. 209) состоится семинар Бенкена Константина Александровича, ведущего специалиста ресурсного центра микроскопии и микроанализа Санкт-Петербургского государственного университета. Тема доклада «Конфокальная микроскопия в биологии». Приглашаются все желающие.

     

    23 мая 2018

  • Участие в 14ом Российско-СНГ-балтийско-японском симпозиуме по сегнетоэлектричеству
  • Делегация из 15 сотрудников УЦКП «Современные нанотехнологии» приняла участие в 14-ом российско-СНГ-балтийско-японском симпозиуме по сегнетоэлектричеству с приглашенными, устными и стендовыми докладами. Симпозиум проходил с 14 по 18 мая в Физико-техническом институте имени А.Ф.Иоффе (г. Санкт-Петербург).
    Молодые участники симпозиума также посетили лекции ведущих ученых в рамках «Школы молодых ученых по спектроскопическим исследованиям критической динамики в структурных фазовых переходах».

    21 мая 2018


Оборудование

  • Сканирующий зондовый микроскоп
  • NTEGRA Aura

    • Топография (рельеф) поверхности
    • Туннельная спектроскопия
    • Визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
    • Пространственное распределение упругих свойств материалов
    • Измерения в газовых средах при контролируемом давлении
  • Зондовый спектроскопический комплекс
  • NTEGRA Spectra

    • Топография (рельеф) поверхности
    • 3D визуализация оптической неоднородности материалов
    • 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояни
    • Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения
  • Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии
  • Nanoeducator

    • Определение основных параметров универсального датчика туннельного тока и силового взаимодействия СЗМ
    • Визуализация твердотельных микро- и наноструктур с помощью СЗМ
    • Динамическая силовая литография
    • Обработка и количественный анализ СЗМ изображений
  • Сканирующий электронный микроскоп
  • Carl Zeiss AURIGA CrossBeam

    • Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и построение трехмерных изображений рельефа поверхности
    • Измерение шероховатости поверхности
    • Измерение толщины покрытий
Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: