Прейскурант на оказание типовых услуг

№№№	Наименование услуги	Используемое научное оборудование	Цена (без НДС), руб.
1	Измерение морфологии методом сканирующей электронной микроскопии	Сканирующий электронный микроскоп, система для подготовки образцов и улучшения контраста СЭМ	от 6500
2	Визуализация топографии поверхности образца методом сканирующей зондовой микроскопии	Сканирующий зондовый микроскоп	от 5700
3	Измерение функции распределения микро- и наночастиц по размерам методом сканирующей электронной микроскопии	Сканирующий электронный микроскоп, система для подготовки образцов и улучшения контраста СЭМ	от 10 400
4	Измерение функции распределения микро- и наночастиц по размерам методом динамического рассеяния света	Анализатор дисперсии наночастиц и растворов	от 2200
5	Измерение структуры биологических тканей методом сканирующей электронной микроскопии	Сканирующий электронный микроскоп, ультрамикротом	от 15 000
6	Измерение шероховатости поверхности методом оптической профилометрии	Оптический профилометр	от 1300
7	Измерение шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии	Сканирующий зондовый микроскоп	от 5700
8	Измерение толщины покрытий методом атомно-силовой микроскопии	Сканирующий зондовый микроскоп	от 2800
9	Определение элементного состава методом сканирующей электронной микроскопии	Сканирующий электронный микроскоп, система для подготовки образцов и улучшения контраста СЭМ	от 3300
10	Определение химического состава методом рентгенофазового анализа	Дифрактометр рентгеновский	от 3300
11	Определение химического состава методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии	Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный	от 9000
12	Определение элементного состава методом рентгеновской флуоресценции	Рентгенофлуоресцентный спектрометр	от 2600
13	Определение фазового состава методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния в широком температурном диапазоне	Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния	от 9000
14	Определение концентрации химических элементов методом атомно-эмиссионной спектроскопии	Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой	от 2600
15	Идентификация, количественный анализ и подтверждение широкого диапазона соединений в комплексных смесях методом жидкостной хроматомасс-спектрометрии	Хроматомасс-спектрометр гибридный квадрупольный	от 13 000
16	Измерение твердости и модуля упругости методом наноиндентирования	Сканирующий зондовый микроскоп	от 11 700
17	Измерение предела прочности материалов	Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов	от 1500
18	Проведение механических испытаний на растяжение и сжатие	Электромеханическая испытательная машина для исследования механических свойств материалов	от 1500
19	Измерение механических напряжений в объеме кристалла методом комбинационного рассеяния света	Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния	от 10 000
20	Определение среднего размера кристаллитов методами рентгеновской дифракции и полнопрофильного анализа Ритвелда	Рентгеновский дифрактометр	от 3300
21	Измерение сегнето-, пиро- и диэлектрических характеристик материалов	Многофункциональная система для измерения и анализа свойств сегнето-, пиро-, диэлектриков	от 1700
22	Измерение магнитных характеристик с помощью вибрационного магнетометра	Вибрационный магнетометр	от 3900
23	Измерение удельной поверхности методом BET	Анализатор площади поверхности и пористости	от 4500
24	Измерение удельной поверхности и распределения пор методом BET	Анализатор площади поверхности и пористости	от 9000
25	Измерение радиуса закругления края пластин	Оптический профилометр	от 1700
26	Измерение параметров печатных плат	Система бесконтактных измерений	от 2700
27	Измерение технологической точности сверления и фрезерования печатных плат	Система бесконтактных измерений	от 5200
28	Изготовление образцов произвольной формы методом лазерной резки	Лазерная система для обработки материалов	от 700
29	Определение плотности образцов		от 1300
30	Планаризация, прецизионная шлифовка и полировка поверхности различных материалов	Станок для прецизионной шлифовки и полировки	от 2600
31	Измерение параметров материалов		договорная
32	Определение массовой доли химических элементов методом лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии	Лазерно-искровой эмиссионный спектрометр	от 2600
33	Визуализация микрообъектов методом оптической микроскопии в широком температурном диапазоне	Оптический микроскоп	от 2000
34	Визуализация микрообъектов методом оптической микроскопии с контролем влажности	Оптический микроскоп	от 2000
35	Измерение краевого угла смачивания и угла скатывания	Комплекс для измерения краевого угла смачивания и тензиометрии	от 3000
36	Обработка материалов с использованием лазерного излучения	Иттербиевый фемтосекундный волоконный лазер	от 2600
37	Обработка материалов с использованием быстрого термического отжига	Установка быстрого термического отжига	от 4000
38	Регистрация спектров отражения гетерогенных систем, порошков и твердых веществ с неровной поверхностью	Комплекс оборудования для оптической спектрометрии	от 3000

Форма поиска