Перечень услуг

  1. Оптическая микроскопия
    1. Визуализация кинетики и статики объектов
      1. в проходящем свете
      2. в отраженном свете
      3. в поляризованном свете
      4. в режиме светлого поля
      5. в режиме темного поля
      6. в режиме фазового контраста
    2. Обработка изображений
      1. устранение дефектов
      2. определение геометрических и статистических параметров
    3. Стандартное исследование включает в себя
      1. Визуализация поверхностных и объемных структур исследуемых материалов в различных областях образца
      2. Первичная обработка изображений
    4. Дополнительные возможности
      1. Разработка оригинальной методики анализа изображений
    5. Оборудование
      1. Моторизированный оптический микроскоп Olympus BX61
      2. Оптический микроскоп Olympus BX51
      3. Программный комплекс для регистрации и обработки изображений SIAMS Photolab
  2. Сканирующая лазерная конфокальная микроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
    1. Трехмерное пространственное распределение оптических, фазовых и структурных неоднородностей 
    2. Аттестация углеродных наноматериалов 
    3. Измерение спектров комбинационного рассеяния с высоким спектральным разрешением 
    4. Совмещение пространственного распределения оптических свойств, фазовой структуры и рельефа поверхности объектов
    5. Оборудование
      1. Зонодвый спектроскопический комплекс Ntegra Spectra
      2. Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния WiTec Alpha 300 AR
  3. Механическая и оптическая профилометрия
    1. Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением
    2. Построение трехмерных изображений рельефа поверхности
    3. Измерение шероховатости поверхности 
    4. Измерение толщины покрытий 
    5. Оборудование
      1. Оптический профилометр WYKO NT 1100
  4. Сканирующая зондовая микроскопия
    1. Измерение и построение трехмерных изображений рельефа поверхности 
    2. Измерение твердости и модуля упругости в режиме наноиндентирования
    3. Токовая и силовая нанолитография 
    4. Визуализация и определение линейных размеров наночастиц, нанотрубок, зерен нанокристаллических материалов и других наноматериалов 
    5. Визуализация магнитных и сегнетоэлектрических доменных структур 
    6. Исследование морфологии биологических объектов 
    7. Измерение пространственной неоднородности механических, оптических, магнитных, электрических и других свойств 
      1. Дополнительные возможности: измерения во внешнем магнитном поле:
        1. горизонтальное поле до +/- 0,2Т
        2. вертикальное поле +/- 0,02Т
    8. Стандартное исследование рельефа поверхности
      1. Измерения в двух различных областях образца
      2. Три скана с различным увеличением в каждой исследуемой области
      3. Первичная обработка изображений
    9. Стандартное исследования твердости и модуля упругости
      1. Измерение твердости материала в двух различных областях образца
      2. Скрабирование поверхности с четырьмя различными нагрузками
      3. Сканирование получившихся царапин
      4. Обработка изображения, извлечение информации о твердости материала
    10. Оборудование
      1. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Prima
      2. Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D SA
      3. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Aura
      4. Зондовая нанолаборатория NTEGRA-Therma
  5. Сканирующая электронная-ионная микроскопия
    1. Измерение рельефа поверхности
    2. Проведение структурного анализа с помощью диффракции обратноотраженных электронов
    3. Определение элементного состава образцов методом электронно-зондового микроанализа
    4. Электронно-лучевая литография
    5. Оборудование
      1. Сканирующий электронный микроскоп Auriga CrossBeam
      2. Низковольтный электронный микроскоп DeLong LVM5
  6. Анализ дисперсий наночастиц в растворах
    1. Комплексный анализ дисперсии нано- и субмикронных частиц в растворах 
    2. Построение распределений частиц по размерам 
    3. Измерение дзета-потенциала раствора 
    4. Оборудование
      1. Анализатор дисперсии Brookhaven 90BI-Zeta Plus
      2. Аналитический модуль с анализатором дисперсий частиц Malvern Zetasizer Nano
  7. Адсорбционная порометрия
    1. Комплексный анализ дисперсности наноматериалов в сухом состоянии 
    2. Измерение суммарного объема и поверхности микро- и мезопор 
    3. Определение удельной поверхности нанопорошков 
    4. Построение распределений пор по размерам 
  8. Оптическая спектроскопия
    1. Измерение и анализ спектров отражения и пропускания в видимой, ближней и дальней ИК и УФ областях спектра 
    2. Количественный химический анализ по спектрам флюоресценции и поглощения 
    3. Идентификация полос поглощения в ИК спектре, относящихся к определенным функциональным группам анализируемых органических и полимерных материалов 
    4. Оборудование
      1. Спектрофотометр Agilent Cary 5000
      2. ИК-Фурье спектрометр Thermo Nicolet 6700
  9. Атомно-эмиссионная и атомно-абсорбционная спектрометрия
    1. Определение качественного и количественного элементного состава материалов 
    2. Элементный состав проб, включая водные и неводные растворы, с одновременным определением до 40 элементов в широком интервале концентраций 
    3. Оборудование
      1. Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Thermo iCAP 6500 Duo
      2. Атомно-абсорбционный спетрометр Thermo Solaar M6
  10. Газовая и жидкостная хроматография, масс-спектрометрия и термогравиметрия
    1. Анализ сложных смесей газов и жидкостей с идентификацией и количественным определением компонентов
    2. Дифференциальная сканирующая калориметрия
    3. Дифференциальный термический анализ
    4. Термогравиметрия
    5. Возможность измерений синхронно с масс-спектрометрическим анализом в широком интервале температур 
    6. Оборудование
      1. Хромато-масс-спектрометр высокого разрешения с двойной фокусировкой Thermo DFS
      2. Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный UPLC Waters Xevo
      3. Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра Netzsch STA 409 Luxx/QMS 403 C
      4. Термоанализатор Netzsch STA 409 PC Luxx
      5. Термогравиметрический анализатор Perkin Elmer PYRIS 1 TGA
  11. Механические испытания, термомеханический анализ, дилатометрия
    1. Испытания на разрыв и сжатие для определения:
      1. предела прочности
      2. предела текучести
      3. предела пропорциональности
      4. коэффициента упрочнения
    2. Измерения линейного расширения в зависимости от температуры при контролируемом усилии 
    3. Определение температур стеклования, текучести и плавления 
    4. Измерения линейного термического расширения порошков, паст и керамических волокон 
  12. Реологические исследования
    1. Одновременное исследование реологических свойств (вязкости, напряжения и скорости сдвига) и структуры деформируемых систем 
    2. Определение реологических параметров в широком интервале температур 
  13. Импедансная спектроскопия
    1. Измерение проводимости материалов, электролит-электродных структур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот, величин проводимости, температур и типов атмосфер 
    2. Измерение магнитных, электрических и других параметров материалов:
      1. индукция насыщения
      2. коэрцитивная сила
      3. магнитная проницаемость
      4. гистерезисные потери
      5. магнитосопротивление
      6. эффект Холла
      7. температура Кюри
      8. электропроводность
      9. диэлектрические потери
      10. теплоемкость 
  14. Рентгеновская дифрактометрия
    1. Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ:
      1. Качественное и количественное определение
      2. Фазовый состав
      3. Кристаллическая структура и размеры кристаллитов в широком интервале температур 
    2. Измерение внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки 
  15. Резонансная спектроскопия
    1. Измерение спектров электронного парамагнитного резонанса 
    2. Измерение спектров двойного электронно-ядерного резонанса 
    3. Измерение спектров ферромагнитного резонанса 
  16. Оптоэлектроника и нанофотоника
    1. Измерение основных характеристик (мощности, энергии и профиля пучка) источников лазерного излучения 
    2. Тестирование элементов оптоэлектроники и нанофотоники с использованием лазерного излучения средней и высокой мощности в видимом, ИК и УФ диапазоне 
  17. Механическая обработка
    1. Прецизионная раскройка образцов 
    2. Высококачественная шлифовка и полировка поверхностей различных материалов 
  18. Фотолитография
    1. Получение сверхчистой деионизованной воды аналитического качества 
    2. Изготовление поверхностных микроструктур методом контактной литографии 
    3. Формирование рисунка в фоторезисте на поверхности пластин 
    4. Вакуумное нанесение тонких пленок металлов и диэлектриков 
    5. Реактивно-ионное травление 
Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: