Многопрофильный прибор, предназначенный для решения задач любой сложности: от простейших рутинных анализов до неспецифических многоуровневых исследований
Приставка фотоэлектрическая DTR-8/D-IR с интегрирующей сферой для измерения коэффициента пропускания и коэффициента диффузного отражения с возможностью исключения нормальной компоненты.
Приставка фотоэлектрическая М8-82 для измерения абсолютного коэффициента зеркального отражения под переменным углом.
Исследование оптических характеристик структур с микрорельефом, коллоидных растворов микро и наночастиц любой концентрации, порошков, керамик.
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой
Определение качественного и количественного элементного состава материалов.
Элементный состав проб, включая водные и неводные растворы, с одновременным определением до 40 элементов в широком интервале концентраций
Предназначен для неразрушающего анализа элементного состава, эмпирической формулы, химического и электронного состояния атомов, присутствующих в материале.
