XXVII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» в Нижнем Новгороде 13-16 марта 2023 г.

XXVII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» в Нижнем Новгороде 13-16 марта 2023 г.

Научная тематика cимпозиума охватывает широкий круг вопросов физики конденсированных сред, ее актуальность диктуется большим количеством работ в этой области в России и за рубежом и лежит в рамках одного из приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России. На cимпозиуме уделялось особое внимание обсуждению измерения и технологии атомарного и нанометрового масштаба на основе зондовых, электронно-лучевых и ионно-лучевых методов. Симпозиум позволил обсудить результаты исследований, полученные российскими учеными, систематизировать их и провести сравнительный анализ с достижениями зарубежных научных групп.

Представлено пять докладов. Тезисы опубликованы в сборнике трудов симпозиума.

  1. В. Я. Шур, Рост доменов в одноосных сегнетоэлектриках при локальном переключении зондом сканирующего зондового микроскопа, Т.1, С.434-435 (приглашенный).
  2. А. П. Турыгин, В. А. Шихова, М. С. Кособоков, А. Р. Ахматханов, О. Н. Сергеева, В. Я. Шур, Особенности роста доменов при локальном переключении поляризации в монокристаллах триглицинсульфата, Т.1, С.422-423 (устный).
  3. Е. А. Пашнина, Д. С. Чезганов, А. С. Слаутина, А. П. Турыгин, А. Д. Ушаков, В. Я. Шур, Формирование доменной структуры на [100]-срезе кристаллов PMN-PT, индуцированное облучением сфокусированным ионным пучком, Т.1, С.399-400 (стендовый).
  4. Д. А. Бизяев, А. П. Чукланов, Н. И. Нургазизов, А. А. Бухараев, Л. В. Базан, В. Я. Шур, А. Р. Ахматханов, МСМ и ФМР исследование изменения магнитных свойств микрочастиц Ni под действием одноосных механических напряжений, Т.1, С.151-152 (устный).
  5. Д. А. Бизяев, Н. И. Нургазизов, А. А. Бухараев, А. П. Чукланов, А. Р. Ахматханов, В. Я. Шур, МСМ-исследования магнитной структуры Ni-микрочастиц с конфигурационной анизотропией, Т.1, С.353-354 (стендовый).

20 марта 2023

Личный кабинет
+ Создать заявку на измерения