NTEGRA Aura

Примеры: 

ИНТЕГРА Аура разработана для осуществления с помощью методов высокоточных АСМ, ЭСМ и МСМ измерений, а также измерений адгезионных сил в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Вакуум, обеспечивающий десятикратное увеличение добротности колебаний кантилевера, достигается уже через 1 минуту после начала работы.  

Производитель:  NT-MDT, Россия
Год выпуска:  2006
Комната:  109

В вакууме повышается добротность колебаний кантилевера, а значит, увеличивается чувствительность, надежность и достоверность в измерениях слабых сил между зондом и образцом.

Основные параметры:  
Размеры образцов до 100х100х15 мм3
ХY разрешение до 0,1 нм
Z разрешение до 0,04 нм
Измерения в газовых средах при контролируемом давлении  
Измерения в жидкости  
Нагрев образцов до 300оС
Приложение к образцу напряжений до 200 В

Основные методики измерения

1. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение коэффициента трения
- пространственное распределение микротвердости

2. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в гетерофазных системах, биологических объектах, полимерах и др.

3. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
- туннельная спектроскопия

4. Магнитная силовая микроскопия (MFM)
- пространственное распределение магнитных сил
- визуализация магнитных доменных структур

5. Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
- пространственное распределение электрического поля и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

6. Метод зонда Кельвина (KPFM)
- пространственное распределение электростатического потенциала и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

7. Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
- пространственное распределение диэлектрических свойств поверхности
- определение концентрации и типа носителей заряда

8. Атомно-силовая акустическая микроскопия (AFAM)
- пространственное распределение упругих свойств материалов

9. Силовая микроскопия пьезоотклика (PFM)
- исследование кинетики локального переключения поляризации в сегнетоэлектриках
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

10. Нанолитография
- силовая литография в полимерных материалах
- токовая литография (анодное окисление, локальное переключение поляризации)
- векторный и растровый режимы

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: