Asylum MFP 3D SA

Примеры: 
BTO
CLN
SmBFO
SmBFO
Домен на монокристале глицина (амлитуда)
Домен на монокристале глицина (фазовый контраст)
Пьзоотклик пленок глицина
Топография пленок глицина

Данный СЗМ обеспечивает высочайшую чувствительность, наиболее точное сканирование и измерения на базе инвертированной оптической платформы

Производитель:  Asylum Research, США
Год выпуска:  2013
Комната:  126

 
Основные параметры:  
Размеры образцов до 100х100х15 мм3
ХY разрешение до 0,1 нм
Z разрешение до 0,04 нм
Приложение к образцу напряжений до 220 В  

 

Основные методики измерения:

1. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM)
- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение коэффициента трения
- пространственное распределение микротвердости

2. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM)

- топография (рельеф) поверхности
- пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в гетерофазных системах, биологических объектах, полимерах и др.

3. Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
- туннельная спектроскопия

4. Магнитная силовая микроскопия (MFM)
- пространственное распределение магнитных сил
- визуализация магнитных доменных структур

5. Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
- пространственное распределение электрического поля и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

6. Метод зонда Кельвина (KPFM)
- пространственное распределение электростатического потенциала и зарядов на поверхности
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

7. Orca
- пространстенное распределение проводимости
- измерение тока в диапазоне от 50 pA до 20 nA

8. Силовая микроскопия пьезоотклика (PFM)
- исследование кинетики локального переключения поляризации в сегнетоэлектриках
- визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков

9. Векторная силовая микроскопия пьезоотклика (VectorPFM)
- одновременная визуализация доменной структуры In-Plane и out-of-Plane

10. DARTSSPFM
- визуализация доменной структуры на двух частотах около резонанса

11. Нанолитография
- силовая литография в полимерных материалах
- токовая литография (анодное окисление, локальное переключение поляризации)
- векторный и растровый режимы

12. Спектроскопия
- измерение локальных перель гистерезиса
- картирование образца

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: