Метрологическое обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты:

1. МВИ шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
2. МВИ шероховатости поверхности с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
3. МВИ шероховатости поверхности методом оптической профилометрии
4. МВИ размеров наночастиц методом атомно-силовой микроскопии
5. МВИ размеров наночастиц с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
6. МВИ линейных размеров методом растровой ЭМ
7. МВИ линейных размеров частиц порошков и коллоидных растворов с помощью ЭМ EVO LS10
8. МВИ линейных размеров системой Kestrel
9. МВИ толщины методом атомно-силовой микроскопии
10. МВИ  толщины нанопокрытий методом интерференционной оптической микроскопии
11. МВИ геометрических параметров периодических структур
12. МВИ геометрических параметров периодических структур с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
13. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в монокристалле ниобата лития с помощью микроскопа Asylum MFP-3D
14. МВИ геометрических параметров периодических доменных структур в ниобате лития методом КМКР с помощью микроскопа Ntegra SPECTRA
15. МВИ дзета-потенциала анализатором Zetasizer Nano ZS
16. МВИ параметров функции распределения  методом динамического рассеяния света
17. МВИ усадочных эффектов, теплового расширения наноматериалов методом дилатометрии
18. МВИ массовой доли адсорбатов в наноматериалах термогравиметрическим методом
19. МВИ температуры стеклования, плавления методом термомеханического анализа
20. МВИ удельной площади поверхности методом газовой адсорбции
21. МВИ атомно-абсорбционное определение меди в электролитах
22. МВИ массовой доли примесей железа и меди атомно-эмиссионным методом
23. МВИ массовых долей примесей свинца, сурьмы методом спектрометрии
24. МВИ степени модифицирования оксидных поверхностей
25. МВИ массовой доли состава адсорбатов
26. МВИ определение содержания меди, железа и висмута
27. МВИ массовой доли серебра
28. МВИ массовой концентрации палладия сорбционно-атомно-абсорбционным методом
29. МВИ магнитного момента наноструктурных материалов
30. МВИ магнитных характеристик магнитотвердых материалов
31. МВИ g -фактора парамагнитных центров
32. МВИ количества парамагнитных центров
33. МВИ массовой доли меди в сталях с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
34. МВИ массовой доли железа в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
35. МВИ массовой доли золота в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
36. МВИ массовой доли серебра в металлах и сплавах с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
37. МВИ массовой доли никеля в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
38. МВИ массовой доли свинца в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
39. МВИ массовой доли цинка в сплавах на основе меди с использованием анализаторов лазерных элементного состава LEA-S500
40. МВИ краевого угла смачивания с помощью тензиометра К100
41. МВИ угла скатывания с помощью прибора для измерения краевого угла DSA25S

Свидетельства о поверке/сертификатов калибровки средств измерений

В настоящее время проходит оформление новых сертификатов калибровки и свидетельств о поверке

1. Свидетельство о поверке № С-С/10-10-2024/377775482
   Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский D8 ADVANCE

2. Свидетельство о поверке № С-С/12-01-2023/218122376
   Средство измерений: Дифрактометр рентгеновский XRD-7000

3. Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2025/409664951
   Средство измерений: Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP 6500 Duo

4. Свидетельство о поверке № С-С/04-03-2025/413964474
   Средство измерений: Установка магнитоизмерительная MPMS-XL EC

5. Свидетельство о поверке № С-С/25-09-2024/377760080
   Средство измерений: Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама

6. Свидетельство о поверке № С-С/05-02-2025/409777023
   Средство измерений: Спектрофотометр атомно-абсорбционный Solaar M6

7. Свидетельство о поверке № С-С/08-11-2024/387058791
   Средство измерений: Спектрофотометр Cary 5000

8. Свидетельство о поверке № С-С/28-02-2025/414374263
   Средство измерений: Термографический анализатор Pyris 1 TGA

9. Свидетельство о поверке № C-C/01-03-2024/321651020
   Средство измерений: Анализатор лазерный элементного состава LEA-S500

10. Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303310011
    Средство измерений: Тензиометр К100С

11. Свидетельство о поверке № 007712-0292-221
    Средство измерений: Термоанализатор синхронный модификации STA 409PC

12. Свидетельство о поверке № 00713-0293-221
    Средство измерений: Термоанализатор динамическо-механический модификации TMA 202

13. Свидетельство о поверке № 005403-0303-221
    Средство измерений: Система капиллярного электрофореза “Капель-105M”

14. Свидетельство о поверке № 002708-1828-251
    Средство измерений: Микроскоп автоэмиссионный сканирующий электронный MERLIN

15. Свидетельство о поверке № С-С/04-03-2025/413964476
    Средство измерений: Магнитометр вибрационный 7407 VSM

16. Свидетельство о поверке № 006475-1464-261
    Средство измерений: Гистерезисграф Permagraph L

17. Свидетельство о поверке № С-С/11-12-2023/303169723
    Средство измерений: Прибор для измерения краевого угла DSA23S

18. Сертификат калибровки № 005883-5730-251
    Средство измерений: Анализатор удельной поверхности и пористости адсорбционный TriStar 3020

19. Сертификат калибровки № 005795-4990-251
    Средство измерений: ИК-Фурье спектрометр Nicolet 6700

20. Сертификат калибровки № 003405-0642-251
    Средство измерений: Прибор для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов «СОРБИ N.4.1»

21. Сертификат калибровки № 005827-5328-251
    Средство измерений: Система бесконтактных измерений Kestrel

22. Сертификат калибровки № 005835-5349-251
    Средство измерений: Измерительная система DMS-1000

23. Сертификат калибровки № 005694-3416-251
    Средство измерений: Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX61

24. Сертификат калибровки № 005872-5560-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Aura

25. Сертификат калибровки № 005874-5562-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Spectra

26. Сертификат калибровки № 005873-5561-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Therma

27. Сертификат калибровки № 002180-5414-251
    Средство измерений: Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света Alpha 300 AR

28. Сертификат калибровки № 003406-0643-251
    Средство измерений: Анализатор размеров частиц лазерный дифракционный SALD-7101

29. Сертификат калибровки № 005871-5557-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий зондовый MFP 3D SA

30. Сертификат калибровки № 005878-5601-251
    Средство измерений: Сканирующий электронный микроскоп AURIGA

31. Сертификат калибровки № 000403-0161-251
    Средство измерений: Спектрометр автоматизированный рентгеновский фотоэлектронный K-Alpha+

32. Сертификат калибровки № 007397-5771-261
    Средство измерений: Машина испытательная AG-50-0.5

33. Сертификат калибровки № 001-001-221
    Средство измерений: Оптический профилометр Wyko NT 1100

34. Сертификат калибровки № 00177-0296-251
    Средство измерений: Высокотемпературный дилатометр DIL 402 C

35. Сертификат калибровки № 005877-5600-251
    Средство измерений: Микроскоп сканирующий электронный EVO LS10

36. Сертификат калибровки № 003404-0641-251
    Средство измерений: Реометр ротационный Haake MARS