AURIGA CrossBeam

Примеры: 
Кристаллографический анализ структуры стали
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Многослойная полимерная упаковочная пленка
Частица серебра, разрезанная ионным пучком
Частицы серебра
Частицы олова
Частицы олова
Частицы олова

Сканирующий электронный микроскоп для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением.

Сфокусированный ионный пучок, рентгеновский микроанализ (EDS), дифракция обратно рассеянных электронов (EBSD), компенсация заряда, электронно-лучевая литография.

Производитель:  Carl Zeiss NTS, Германия
Год выпуска: 2009
Комната: 124
 
Основные параметры:  
Сканирующий электронный микроскоп:  
    электронная пушка автоэмиссионный катод Шоттки
    разрешение  1.0нм @ 15кВ, 1.9нм @ 1кВ
    увеличение 12x – 1 000 000x
    ускоряющее напряжение 0.1 – 30кВ
   
Сфокусированный ионный пучок  
    ионная пушка автоэмиссионный Ga
    разрешение < 2.5нм @ 30 кВ
    увеличение 300x – 500 000x
    ускоряющее напряжение 1.0 – 30кВ 

 

Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: