Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017

 

Уральский центр коллективного пользования
"Современные нанотехнологии" и
Уральский Федеральный Университет

приглашает Вас принять участие в международной конференции
Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017
28 – 30 августа 2017

Институт естественных наук и математики УрФУ,
Екатеринбург, ул. Куйбышева, 48

 


  • Отчет о стажировке
  • В среду 22 ноября в 15:00 состоялся семинар, на котором наш сотрудник Макаев Андрей Владимирович рассказал о своем прохождении стажировки в компании "3D Bioprinting solutions" по теме «3Д печать биологических тканей с помощью метода экструзии».

    23 ноября 2017

  • Прощальный семинар
  • В понедельник 20 ноября в 14:00 в аудитории 209 состоялся прощальный семинар, на котором наш китайский коллега Qingyuan Hu рассказал о результатах его работы в течение года под руководством Владимира Яковлевича Шура, профессора, доктора физико-математических наук, директора Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии».

    21 ноября 2017

  • Участие в Третьем международном семинаре по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам (The 3rd China-Russia Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials)
  • Владимир Яковлевич Шур, профессор, директор Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ, и старший научный сотрудник Ахматханов Андрей Ришатович посетили г. Ухань (Китай) 12-14 октября 2017 г. и приняли участие в третьем международном семинаре по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам с приглашенными докладами. Следующий семинар из этой серии будет проводиться в 2019 году в Екатеринбурге под руководством Шура В.Я.

    16 октября 2017

  • Участие в конференции Baltic Conference Series 2017
  • Владимир Яковлевич Шур, профессор, доктор физико-математических наук, директор Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ с 8 по 11 октября принимал участие в Балтийской конференции 2017 (Baltic Conference Series 2017) с приглашенным докладом "Нанесение пиколитровых капель под действием пироэлектрического поля, производимого танталатом лития с заданной доменной структурой". Конференция проходила в Балтийском море на пароме, путешествующем между Стокгольмом и Хельсинки.

    15 октября 2017

  • Участие в конференции ALT’17
  • 10-15 сентября 2017 г. Владимир Яковлевич Шур, профессор, доктор физико-математических наук, директор Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ принял участие в 25 международной конференции Advanced Laser Technologies (ALT '17) в г. Пусан (Южная Корея) с приглашенным докладом "Periodically Poled MgO Doped LiNbO3 and LiTaO3 for Coherent Light Frequency Conversion".

    17 сентября 2017


Оборудование

  • Сканирующий зондовый микроскоп
  • NTEGRA Aura

    • Топография (рельеф) поверхности
    • Туннельная спектроскопия
    • Визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
    • Пространственное распределение упругих свойств материалов
    • Измерения в газовых средах при контролируемом давлении
  • Зондовый спектроскопический комплекс
  • NTEGRA Spectra

    • Топография (рельеф) поверхности
    • 3D визуализация оптической неоднородности материалов
    • 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояни
    • Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения
  • Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии
  • Nanoeducator

    • Определение основных параметров универсального датчика туннельного тока и силового взаимодействия СЗМ
    • Визуализация твердотельных микро- и наноструктур с помощью СЗМ
    • Динамическая силовая литография
    • Обработка и количественный анализ СЗМ изображений
  • Сканирующий электронный микроскоп
  • Carl Zeiss AURIGA CrossBeam

    • Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и построение трехмерных изображений рельефа поверхности
    • Измерение шероховатости поверхности
    • Измерение толщины покрытий
Организация*: Контактное лицо*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: