Владимир Яковлевич Шур вошел в число лучших сотрудников УрФУ по итогам 2024 года

Мы рады сообщить, что главный научный сотрудник отдела оптоэлектроники и полупроводниковой техники Уральского федерального университета Владимир Яковлевич Шур был отмечен за выдающиеся достижения по итогам 2024 года. 

21 марта 2025

ДЕНЬ НАУКИ В ЛАБОРАТОРИИ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИКОВ ИЕНиМ

8 февраля в рамках празднования Дня Науки в лаборатории сегнетоэлектриков состоялся научный семинар. Обсудили планы научных исследований в 2024 году.

 

08 февраля 2024

Поздравляем с победой в конкурсе студенческих проектов!

15 января 2024 года состоялась церемония награждения победителей "Конкурса студенческих проектов, реализованных в рамках проектного обучения в 22/23 уч.году".

Студенты второго курса Института естественных наук и математики, обучающиеся по направлению подготовки "Нанотехнологии и микросистемная техника", Баянкина А.С., Кускова Е.А., Палецких П.А., Ткачук Д.Е. и Шиварова Д.А. под руководством сотрудников УЦКП «Современные нанотехнологии» Пряхиной В.И. (заказчик проекта) и Кузнецова Д.К. (куратор проекта) стали победителями конкурса в треке «Научно-исследовательские проекты». 

16 января 2024

Поздравляем Шура В.Я. - победителя в конкурсе ТОП-30 самых результативных научно-педагогических работников УрФУ

 

25 декабря 2023 на заседании Ученого совета УрФУ вручили почетные грамоты победителям конкурса 2022 года ТОП-30 самых результативных научно-педагогических работников УрФУ.
 

Поздравляем главного научного сотрудника отдела оптоэлектроники и полупроводниковой техники НИИФПМ ИЕНиМ Шура Владимира Яковлевича ​ с победой в конкурсе ТОП-30!!!

27 декабря 2023

Новое оборудование: Приставки фотоэлектрические DTR-8/D-IR и М8-82 к спектрофотометру, ООО "СОЛ инструментс", Республика Беларусь,

В УЦКП «Современные нанотехнологии» в рамках в рамках выполнения гранта Министерства науки и высшего образования Российской Федерации «Реализация мероприятий и выполнение работ по дооснащению Уральского Центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ (Проект 075-15-2021-677) приобретены  приставки фотоэлектрические DTR-8/D-IR и М8-82 к спектрофотометру производства ООО "СОЛ инструментс", Республика Беларусь. 

07 декабря 2023


Оборудование

Сканирующий зондовый микроскоп

NTEGRA Aura

  • Топография (рельеф) поверхности
  • Туннельная спектроскопия
  • Визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
  • Пространственное распределение упругих свойств материалов
  • Измерения в газовых средах при контролируемом давлении

Зондовый спектроскопический комплекс

NTEGRA Spectra

  • Топография (рельеф) поверхности
  • 3D визуализация оптической неоднородности материалов
  • 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояни
  • Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения

Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии

Nanoeducator

  • Определение основных параметров универсального датчика туннельного тока и силового взаимодействия СЗМ
  • Визуализация твердотельных микро- и наноструктур с помощью СЗМ
  • Динамическая силовая литография
  • Обработка и количественный анализ СЗМ изображений

Сканирующий электронный микроскоп

Carl Zeiss AURIGA CrossBeam

  • Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и построение трехмерных изображений рельефа поверхности
  • Измерение шероховатости поверхности
  • Измерение толщины покрытий
Личный кабинет
+ Создать заявку на измерения