Система конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния
Неразрушающий химический анализ методом конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния и получение изображений рельефа поверхности с высоким разрешением
Сканирующий электронный и ионный микроскоп для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов. Пространственное разрешение до 1 нм.
Сканирующий электронный микроскоп для биологических исследований в режимах высокого и переменного вакуума и в парах воды. Предназначен для широкого спектра исследований биологических и медицинских объектов в их естественном состоянии (в естественной среде), включая возможность регулировки давления водяных паров до 3000 Па.
Тестирование полупроводниковых, оптоэлектронных, микро- и нано- электромеханических систем с прецизионным позиционированием зондов и контролем процесса в оптический микроскоп.
ИНТЕГРА Аура разработана для осуществления с помощью методов высокоточных АСМ, ЭСМ и МСМ измерений, а также измерений адгезионных сил в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Вакуум, обеспечивающий десятикратное увеличение добротности колебаний кантилевера, достигается уже через 1 минуту после начала работы.
Исследования методами оптической микроскопии и конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния в широком температурном диапазоне
с контролируемой атмосферой и влажностью.
Измерение твердости и модуля упругости методом наноиндентирования; измерение геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым разрешением
